 Các dòng sản phẩmChúng tôi cung cấp các giải pháp phân tích đáng tin cậy, chính xác và nhanh chóng. Danh mục công nghệ phân tích của chúng tôi bao gồm quang phổ huỳnh quang tia X (XRF), quang phổ phân tích laser (LIBS), quang phổ phát xạ quang học (OES) và phân tích nhiệt (TA) cho nhiều ứng dụng. Thiết bị phân tích của chúng tôi được tối ưu hóa cho các điều kiện sử dụng đầu cuối đa dạng, bao gồm môi trường phòng thí nghiệm nghiên cứu, sản xuất và tại xưởng. |
 |
|
|
|
|
|
|
Máy quang phổ phát xạ quang học di động và cố định (OES) |
|
|
|
Được thiết kế để kiểm soát chất lượng liền mạch với thời gian ngừng sản xuất tối thiểu, các thiết bị OES của chúng tôi được hỗ trợ bởi gói phần mềm mạnh mẽ tương thích với hầu hết ứng dụng công nghiệp và chia sẻ kết quả. Với khả năng phân tích tất cả các nguyên tố quan trọng ở giới hạn phát hiện thấp, các giải pháp của chúng tôi mang lại độ chính xác và chuẩn xác bao gồm cacbon trong thép, các nguyên tố vi lượng và các nguyên tố gây ô nhiễm trong hầu hết các kim loại.
45 năm kinh nghiệm | Sản xuất tại Đức | Arc/Spark | Phân tích OES tối ưu | Không gây hại
|
|
|
Dòng OES để bàn – phân tích nguyên tố trong kiểm soát gia công và QA/QC kim loại
Kiểm soát chất lượng liền mạch là điều cần thiết cho tất cả các hoạt động gia công kim loại, từ phân tích tạp chất phế liệu và kiểm tra vật liệu đầu vào đến quy trình đúc cũng như đảm bảo và kiểm soát chất lượng sản phẩm.
Máy quang phổ phát xạ quang học để bàn của chúng tôi sử dụng công nghệ CMOS và CCD tiên tiến, cung cấp kết quả phân tích với độ chính xác và độ chuẩn xác cao nhất. Các gói phần mềm mạnh mẽ nhưng dễ sử dụng tương thích với hầu hết ứng dụng.
・OE Series – phân tích kim loại
・FM EXPERT – phân tích nitơ nồng độ thấp
・FOUNDRY-MASTER Smart – entry level OES
 | |
|
Dòng OES di động – để phân tích PMI và phân loại kim loại
Máy quang phổ phát xạ quang học cầm tay OES vượt trội trong việc cung cấp đầy đủ tính chất hóa học của các nguyên tố hợp kim quan trọng ở giới hạn phát hiện thấp mà máy phân tích tia X và LIBS cầm tay không thể: cacbon, phốt pho, lưu huỳnh, boron, asen và thiếc trong hợp kim thấp và thép không gỉ, và nitơ trong thép duplex.
Đó là lý do tại sao Spark OES là phương pháp đáng tin cậy và được sử dụng rộng rãi nhất để tạo và xác minh MTR (Mill test report - Chứng nhận kiểm tra vật liệu) trên thế giới. Máy quang phổ di động và cầm tay của chúng tôi cũng đáp ứng các yêu cầu kiểm tra hóa học hợp kim luyện kim PMI nghiêm ngặt nhất thế giới, bao gồm thử nghiệm API 5L, API RP578, ASME phần IX B&P và ISO 17025.
・PMI-MASTER Smart – Phòng thí nghiệm di động
・PMI-MASTER Pro 2 – Phân tích PMI khi đang di chuyển
 | |
|
|
|
|
|
Máy phân tích XRF và LIBS cầm tay |
|
|
|
Máy phân tích LIBS và XRF cầm tay của chúng tôi mang đến khả năng di động tối ưu, hầu như ở mọi nơi với kết quả chất lượng như tại phòng thí nghiệm. Máy phân tích di động có thời lượng pin cả ngày với màn hình tùy chỉnh dễ sử dụng, đủ lớn để xem kết quả xác minh vật liệu và nhận dạng hóa học đáng tin cậy. Người dùng có toàn bộ khả năng kết nối nhờ các giải pháp dựa trên đám mây và bộ lưu trữ dữ liệu dồi dào của chúng tôi để đảm bảo tăng năng suất.
Máy phân tích cầm tay của chúng tôi:
・Nhanh
・Dễ sử dụng
・Chi phí thấp
・Chắc chắn và bền bỉ
|
|
|
 Máy phân tích XRF cầm tay | Dòng X-MET8000
Dòng máy phân tích huỳnh quang tia X cầm tay X-MET8000 mang lại hiệu suất cần thiết để nhận dạng nhanh thành phần hợp kim và hóa học chính xác của nhiều loại vật liệu (kim loại rắn và bột, polyme, gỗ, dung dịch, đất, quặng, khoáng chất, v.v.). Máy phân tích XRF cầm tay X-MET (HHXRF) rất thiết thực, mạnh mẽ và dễ sử dụng để mang lại kết quả đáng tin cậy. | |
|
 Máy phân tích LIBS cầm tay | Dòng Vulcan+
Vulcan là máy phân tích LIBS (quang phổ cảm ứng bằng laser) cầm tay, cho phép người dùng thực hiện phân tích kim loại nhanh chóng và được bảo hành 3 năm. Chỉ cần bóp cò và một giây sau kết quả sẽ xuất hiện. Vì máy sử dụng công nghệ phân tích tia laser (LIBS) nên không có mối lo về ảnh hưởng của tia X.
Cho dù doanh nghiệp của bạn là phân loại phế liệu hay kiểm soát chất lượng PMI, máy quang phổ kim loại Vulcan luôn cung cấp ID chính xác và nhất quán. | |
|
|
|
|
|
Máy phân tích XRF để bàn và đặt trên sàn |
|
|
|
Mang lại kết quả đáng tin cậy
Máy phân tích để bàn của chúng tôi cung cấp các tính năng và lợi ích sau:
・Dễ sử dụng, ngay cả với người vận hành không chuyên
・Mạnh mẽ, đáng tin cậy và bền bỉ cho môi trường phòng thí nghiệm và sản xuất
・Các tính năng tự động giúp giảm thiểu lỗi người dùng và tăng hiệu suất thử nghiệm
・Phân tích hiệu suất cao mang lại kết quả chính xác và chuẩn xác
・Phân tích nhanh để có phản hồi tức thì về gia công và kiểm soát chất lượng
Thích hợp cho:
・Phân tích nguyên tố trong nhiều ngành công nghiệp
・Phân tích RoHS về độ tương thích
・Kiểm soát chất lượng sản xuất pin lithium-ion
・Phân tích sàng lọc phthalate
|
|
|
 Phân tích nguyên tố XRF để bàn | Dòng sản phẩm LAB-X và X-Supreme
Phân tích XRF (huỳnh quang tia X) bằng máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng mạnh mẽ và linh hoạt (EDXRF) với các dòng X-Supreme8000 và LAB-X5000 để đảm bảo chất lượng và yêu cầu kiểm soát trên nhiều ứng dụng khác nhau; ví dụ: hóa dầu, xử lý gỗ, khoáng sản, khai thác mỏ, mỹ phẩm, xi măng, giấy.
| |
|
|
|
|
Khi một nanomet có thể là sự khác biệt
Dụng cụ của chúng tôi mang lại những lợi ích sau:
・Nguồn tia X và quang học mạnh mẽ để phân tích nhiều lớp
・Tuân thủ các tiêu chuẩn của ngành, chẳng hạn như IPC, ISO3497, ASTM B568 và DIN50987
・Dễ sử dụng với phần mềm trực quan và các tính năng tự động để tăng tốc độ phân tích
・Lựa chọn quang học, loại máy dò và mức độ tự động hóa để đạt hiệu quả và tiết kiệm chi phí
・Chẩn đoán tự kiểm tra đảm bảo thiết bị luôn mang lại kết quả đáng tin cậy
・Máy đo điện từ cầm tay và để bàn để tiếp cận các khu vực cần đo
Thích hợp cho:
・Phân tích thành phần và độ dày lớp phủ
・Phân tích lớp phủ điện tử bao gồm thông số kỹ thuật IPC
・Phân tích lớp phủ hoàn thiện kim loại nói chung
|
|
|
Máy đo độ dày lớp phủ cầm tay
Máy đo độ dày lớp phủ cầm tay của chúng tôi cung cấp các phép đo đáng tin cậy, đơn giản và chính xác.
Được lựa chọn từ nhiều loại máy kiểm tra độ dày kỹ thuật số với khả năng được cải tiến, từ các mẫu cấp thấp đến các mẫu cao cấp nhất.
| |
|
|
|
|
|
Máy phân tích XRF cho độ dày và thành phần lớp phủ |
|
|
|
| Dòng máy phân tích XRF để bàn của Hitachi dùng để đo độ dày và thành phần lớp phủ được thiết kế để đáp ứng những thách thức của các xưởng mạ và nhà sản xuất linh kiện điện tử ngày nay. Mỗi thiết bị đều có công nghệ mạnh mẽ để mang lại kết quả chính xác và chuẩn xác nhưng vẫn đủ bền để đáp ứng việc sử dụng liên tục trong môi trường sản xuất hoặc phòng thí nghiệm. |
|
|
 X-Strata920 | Máy phân tích XRF linh hoạt và đa năng
X-Strata920 là máy phân tích XRF để bàn có độ chính xác cao đi kèm với nhiều tùy chọn để chứa nhiều loại mẫu. Thích hợp để đo lớp phủ trên nhiều loại chất nền, máy phân tích này được dùng để phân tích các thiết bị điện tử, đầu nối, đồ trang trí và đồ trang sức, những lĩnh vực đòi hỏi chất lượng sản phẩm phải chuẩn xác và đầy đủ. | |
|
 Dòng FT200 | XRF tự động để phân tích lớp phủ nhanh chóng
Máy phân tích XRF để bàn dòng FT200 được thiết kế để giảm đáng kể thời gian thực hiện phép đo. Nhận thấy rằng việc thiết lập mẫu và lựa chọn công thức đo lường tốn nhiều thời gian nhất, các kỹ sư tại Hitachi đã tạo ra một loạt máy phân tích đột phá có khả năng tự "thiết lập" hiệu quả, giúp có thể phân tích nhiều bộ phận hơn trong một vòng hoạt động duy nhất. | |
|
Dành cho các doanh nghiệp Việt Nam
