 製品レンジ日立ハイテクアナリティカルサイエンス Hitachi High-Tech Analytical Science GmbHは、信頼性が高く、正確かつ迅速な分析のための幅広い分析ソリューションを提供しています。
当社の分析技術のポートフォリオには、幅広いアプリケーション向けの XRF、OES、LIBS、熱分析 (TA) が含まれます。 当社の分析機器は、現場、産業、研究室の環境など、さまざまな使用条件に合わせて最適化されています。 |
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可搬型および卓上/床置き発光分光分析計 (OES)
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生産のダウンタイムを最小限に抑えたシームレスな品質管理を目的に設計された当社の OES 機器は、ほぼすべての産業用途と結果の共有をカバーする強力なソフトウェア パッケージによって支えられています。
すべての重要な元素を低い検出限界で分析できる当社のソリューションは、鋼鉄中の炭素、ほぼすべての金属中の微量元素および混入元素を含む精度と精度を実現します。
45年の経験 | ドイツ製 | アーク/スパーク | 究極のOES分析 | 妥協はありません
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卓上型 OES シリーズ – プロセス制御および金属 QA/QC における元素分析用
シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です。
当社の卓上型 発光分光計は、最先端の CMOS および CCD テクノロジーを使用して、最高レベルの精度と精度の分析結果を提供します。 強力でありながら使いやすいソフトウェア パッケージは、ほぼすべてのアプリケーションをカバーします。
・OE シリーズ – 需要の高い金属分析用
・FM EXPERT – 低レベル窒素分析
・FOUNDRY-MASTER Smart – エントリーレベルのOES
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可搬型発光分析装置
Spark 可搬型発光分析計 (OES) は、携帯用 X 線分析装置や LIBS 分析装置ではできない低い検出限界で、低合金鋼やステンレス鋼中の炭素、リン、硫黄、ホウ素、ヒ素、錫や二相鋼中の窒素などの重要な合金元素の完全な化学的性質を提供することに優れています。
そのため、Spark OES は、世界中で MTR (工場試験レポート) の作成と検証に最も信頼され、広く使用されている方法です。 当社の可搬型分光計は、API 5L テスト、API RP578、ASME セクション IX B& PV、および ISO 17025 を含む世界で最も厳しい PMI 冶金合金化学テスト要件も満たしています。
・PMI-MASTER Smart – ポータブル実験室
・PMI-MASTER Pro 2 – 外出先での PMI 分析
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当社のハンドヘルド LIBS および XRF 分析装置は、事実上どこにいてもラボ品質の結果を得ることができる究極の携帯性を提供します。 これらの使いやすいポータブル分析装置は、信頼性の高い化学物質の同定と材料検証の結果を確認できる十分な大きさの、使いやすくカスタマイズ可能なディスプレイを備えた丸 1 日のバッテリー寿命を提供します。 当社のクラウドベースのソリューションと豊富なデータストレージにより、完全な接続が可能となり、生産性の向上が保証されます。
当社のハンドヘルド分析装置の特徴
・高速
・使いやすい操作性
・低コスト
・堅牢性と耐久性
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 ハンドヘルド蛍光X線分析装置（XRF) - X-MET8000シリーズ
ハンドヘルド蛍光X線分析装置（HHXRF）のX-MET8000シリーズは、合金グレードと多種多様な材料を迅速に識別します（固体及び粉末金属、ポリマー、木材、溶液、土壌、鉱石、鉱物等）。 X-METは実用的で堅牢且つ使いやすく、信頼できる結果をご提供致します。 | |
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 ハンドヘルドLIBS分析装置 - Vulcan シリーズ
Vulcanは最速の金属分析装置の一つです。トリガを絞るだけで1秒後に結果が表示されます。 レーザブレークダウン技術（LIBS）を使用しているため、X線の影響を心配する必要はありません。
スクラップの分類、PMI品質管理など、事業の種別に関係なく、Vulcanは常に正確で一貫したグレードIDを提供します。 | |
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信頼できる結果を何度でも提供します
当社の卓上螢光X線分析装置（XRF)は、次の機能と利点を提供します。
・専門家でなくても簡単に操作可能
・研究室や生産環境に耐える堅牢性、信頼性、耐久性を備えています。
・自動化機能により人的ミスが軽減され、テストのスループットが向上します。
・高性能分析により、正確かつ正確な結果が得られます。
・迅速な分析により、プロセスと品質管理に即座にフィードバック
適した用途：
・幅広い業界の元素分析
・RoHS適合性分析
・リチウムイオン電池の製造品質管理
・フタル酸エステルスクリーニング分析 |
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 卓上バルク螢光X線分析装置（XRF) | Lab-X、X-Supremeシリーズ
様々なアプリケーションでの品質保証及びプロセス制御要求を満たす非常に柔軟でパワフルなエネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDXRF）、分光計X-Supreme8000、Lab-X3500による蛍光X線分析（XRF）です。例：石油、原油、木材処理、鉱物、鉱業、化粧品、セメント、紙など | |
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1ナノメートルが違いを生み出します
当社の膜厚計は次の利点をもたらします。
・多層解析のための強力なX線源と光学系
・IPCガイドライン、ISO3497、ASTM B568、DIN50987などの業界規格に準拠
・直感的なソフトウェアと自動化機能で使いやすく、分析をスピードアップします。
・光学系、検出器の種類、自動化レベルを選択して効率と費用対効果を実現
・自己診断診断により、機器は常に信頼できる結果を提供します。
・測定が必要な領域に到達するハンドヘルドおよび卓上電磁計
適した用途：
・膜厚と組成分析
・IPC仕様を含む電子コーティング解析
・金属仕上げ塗装全般の分析 |
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接触式膜厚計
当社の接触式膜厚計は、信頼性が高く、シンプルかつ正確な測定を提供します。
エントリーレベルのモデルから最上位モデルまで、機能が向上したさまざまなデジタル厚さ検査機からお選びください。
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コーティング膜厚、材料分析 蛍光X線分析装置（XRF） |
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| コーティングの厚さと組成を測定するための日立の卓上型XRF 分析装置は、めっき工場や電子部品メーカーのニーズを満たすように設計されています。 各機器には、正確な結果を提供するための強力な技術が組み込まれており、生産環境や実験室環境での継続的な使用に耐える十分な耐久性を備えています。 |
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 X-Strata920 | 柔軟で多用途な XRF 分析装置
X-Strata920 は、多くの種類のサンプルに対応する幅広いオプションを備えた高精度ベンチトップ XRF 分析装置です。 さまざまな基板上のコーティングの測定に最適なこの分析装置は、製品の品質を確立する必要があるエレクトロニクス、コネクタ、装飾品、宝飾品の分析に最適です。 | |
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 FT200シリーズ | 自動化された XRF による迅速なコーティング分析
FT200 シリーズ卓上型XRF 分析装置は、測定にかかる時間を大幅に短縮するように設計されています。 サンプルのセットアップと測定メニューの選択に最も時間がかかることを認識し、日立のエンジニアは、効果的に装置自身が「セットアップ」する一連の画期的な分析装置を開発し、1 回のシフト内でより多くの部品を分析できるようにしました。 | |
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